色散的4种测量方法


因为介质的色散,光信号经过光纤、光器件或系统后出现波形展宽,这会产生码间干扰,增加误码率,进而限制通信容量。因此,光纤或光器件色散小,对增加通信容量和加大传输距离非常重要。色散测量主要有四种方法,分别是相移法、差分相移法、干涉测量法和光脉冲时延法。

 

01.相移法

相移法测量原理是:采用可调窄带光源输出不同波长,检测正弦参考信号与被调制信号之间的相移。不同波长光经过系统后,相移量也不同。结合群时延定义,某频率处的相位(相移)对于频率的变化率,进而获得时延差值和色散系数。

02.差分相移法

改进相移法实现差分相移法。将上述参考光换成另一路经过系统的信号光,两束光都经过调制器和被测光纤,构成双波长信号光和双检测系统。进行相移测量,获得群时延和色散系数。

03.干涉测量法

干涉测量法是借助麦克尔逊或马赫-曾德尔干涉仪结构,测量待测光纤与参考光路的时延差,而参考光纤群时延谱已知,则可获得待测光纤的群时延谱,进而获得色散信息。

04.光脉冲时延法

光脉冲时延法是光源输出光脉冲,借助时间延迟器和示波器,测量光脉冲经过系统后与基准的时延差。输出多组不同光脉冲,可以获得时延谱。多组数据通过拟合函数,得到时延曲线,并求导获得色散系数。

光矢网OVA5100可以直接测试色散,单次测量只需3秒即可得到光器件的完整光学响应,包括:色散,群延时,相位,偏振相关损耗,偏振模色散……等参数。非常方便快速,是硅光子,平面光波导设计的理想测试工具。

测试案例

 

图1 TeraXion色散发生器

我们用TeraXion色散发生器产生1000ps/nm色散,然后将色散发生器作为待测件接入OVA5100的输入和输出端口。得到如下测试曲线:

图2 色散测试

图3 色散测试

在图3中,我们用十字光标测量得到,dx=0.350nm dy=369ps,根据色散定义知CD=dy/dx=1054ps/nm