光波导损耗测试
为了与CMOS工艺兼容,已经开发了多种多样的波导几何形状,几乎任何比玻璃折射率高的透明材料都可以沉积在氧化硅衬底之上形成光波导。经过几年的努力,已将这些亚微米量级波导的损耗降低到可以接受的水平。底损耗多模直波导与封闭的单模弯曲波导相结合是布线的最佳选择,传输损耗低至0.026dB/cm。其他PIC器件都被证实损耗很低。
光波导在测试曲线中表现出伪增益,是因为波导折射率和反射率与单模光纤不一样。可以看到波导损耗一致性比较好,呈线性衰减。
对波导损耗进行测试。波导长度为1.27m,损耗为12.37dB,约为0.09dB/cm。
得益于OBR的高空间分辨率(10μm)和高动态范围(80dB),可以对波导内部进行“探知”,只有知道波导内部是什么样的,你才能设计光波导!
光波导在测试曲线中表现出伪增益,是因为波导折射率和反射率与单模光纤不一样。可以看到波导损耗一致性比较好,呈线性衰减。
对波导损耗进行测试。波导长度为1.27m,损耗为12.37dB,约为0.09dB/cm。
得益于OBR的高空间分辨率(10μm)和高动态范围(80dB),可以对波导内部进行“探知”,只有知道波导内部是什么样的,你才能设计光波导!