最近，在美国2022 OFC会议上，Luna推出了一款光子芯片自动测试解决方案，为快速批量化测试硅光芯片提供了希望。此款光子芯片测试平台是由Luna 6415器件分析仪结合 Maple Leaf Photonics 系统组成。   
    Luna 6415光学器件分析仪是一款快速且易于使用的光无源器件件和模块分析设备。Luna 6415集成了luna公司在OVA、OBR和激光器领域的最新技术。Luna 6415可以在反射或透射模式测量并分析器件的插入损耗 （IL） 和回波损耗 （RL） 随长度的分布情况。
    Luna 6415利用光频域反射（OFDR）技术来测量背向散射或透射光与距离的函数关系。极高的灵敏度（-135dB）和采样分辨率（20μm）使Luna 6415成为光子芯片（PIC）和硅光子学的理想测试工具。Luna 6415 通过单台仪器测量反射或透射中的 RL、IL 和长度的关系，降低了测试的成本和复杂性，同时提高了吞吐量。