LUNA6415作为光子集成电路和硅光芯片的理想测试工具，得益于其超高的灵敏度和空间分辨率（20μm）。LUNA6415还具备单台仪器通过选择反射或者透射模式就能完成IL、RL、长度等所有测试，大大降低了测试成本，同时简化了测试流程。相比其他测试系统，将大大增加测试产量等优势。

产品特点

• 回损和插损分析
• 光路中任一点的回损测试-分布式回损测试
• 光谱分析
• 识别不同反射事件
• 精准测量光纤长度（20μm空间分辨率）

产品应用

• PLCs，AWG，WDM，DWDM，WSS等无源器件测试

产品参数
 

参数		指标	单位
测试
采样分辨率 (两点)1		20	µm
时域延迟精度2		± 0.0034	%
最大测试长度	反射模式	20	m
	透射模式	40	m
波长范围		40	nm
波长精度2		1.5	pm
中心波长		1546.69	nm
测试速率		6	Hz
最大光功率		5	mW
回损特性 (反射模式)
RL 动态范围3		70	dB
测试范围4		0 to -130	dB
灵敏度4		-135	dB
分辨率5		± 0.1	dB
精度5		± 0.5	dB
插损特性 (反射/透射)
IL 动态范围，透射模式		70	dB
IL 动态范围，反射模式6		15	dB
分辨率7		± 0.1	dB
精度7		± 0.2	dB
硬件特性
光学接口		FC/APC	–
最大功率		50	W
重量 (不含控制器)		13 (6)	lb (kg)