LWA7601-C光器件分析仪
LWA7000系列是美国LUNA公司最新产品，是Luna6415的优化升级替代款，在整体性能上更上一个台阶。是光子集成电路和硅光芯片的理想测试工具，得益于其超高的灵敏度和空间分辨率（20μm）。LWA7000还具备单台仪器通过选择反射或者透射模式就能完成IL、RL、长度等所有测试，大大降低了测试成本，同时简化了测试流程。相比其他测试系统，将大大增加测试产量等优势。
产品特点
产品特点
- 回损和插损分析
- 光路中任一点的回损测试-分布式回损测试
- 光谱分析
- 识别不同反射事件
- 精准测量光纤长度（20μm空间分辨率）
- PLCs，AWG，WDM，DWDM，WSS等无源器件测试
| 参数 | 规格 | 单位 | ||
| 测试性能 | ||||
| LWA 7601-C | LWA 7601-C（+options） | |||
| 最大测试长度 | 反射模式 | 100 | 500 | m |
| 透射模式 | 200 | 1000 | m | |
| 空间分辨率 | 20 | 80 | µm | |
| 波长精度 | ± 2 | pm | ||
| 时延精度 | ± 0.001 | ± 0.005 | % | |
| 中心波长 | 1546.69 | nm | ||
| 扫频 (波长)范围 | ± 2500 (~ ± 20 nm) | ± 625 (~ ± 5 nm) | GHz | |
| 测试速率 (连续模式下) | ~0.08 (20m) | ~0.5 | s | |
| ~0.4 (100 m) | ||||
| 最大输出光 | 5 | mW | ||
| 回损特性 (反射模式) | ||||
| RL 动态范围 | 70 | dB | ||
| 测量范围 | 0 to -130 | dB | ||
| 灵敏度 | -135 | dB | ||
| R分辨率 | ± 0.1 | dB | ||
| 精度 | ± 0.5 | dB | ||
| 插损特性 (反射/透射) | ||||
| IL 动态范围（透射） | 70 | dB | ||
| IL 动态范围（反射） | 15 | dB | ||
| 分辨率 | ± 0.1 | dB | ||
| 精度 | ± 0.2 | dB | ||
| 物理特性 | ||||
| 控制接口 | SCPI API over TCP/IP | – | ||
| 光学接口 | FC/APC | – | ||
| 尺寸 | 35 (L) x 47 (W) x 10 (H) | cm | ||
| 重量 | 15 (7) | lb (kg) | ||
