General Photonics公司的PDL/IL测试仪(PDL-201)采用最大值/最小值搜寻法(符合TIA/EIA-455-198标准)，能够对器件的偏振相关损耗(PDL)、插入损耗(IL)、光功率进行快速测量，测量速度0.2s。该测试仪工作波长覆盖1260～1620nm，在高、低PDL和各种SOP的情况下都能得到精确的测量结果，无需波长校准，比基于Mueller矩阵方法测得的PDL值更准确。该测试仪拥有RS-232、USB 及以太网接口，可以方便地与计算机连接，进行远程控制和数据传输，是精确、快速测量无源器件、DWDM 器件的理想仪器。 

产品特性：

• 30 ms的测量速度
• 较宽的波长范围
• PDL测量精度高
• PDL模拟输出
• 高亮的OLED屏

产品应用：

• PDL与波长测量
• DWDM器件特性测试
• 光纤传感元件特性测试
• 插入损耗(IL)的测量 
• 器件生产、研发、质量评估 

 

性能参数	指标
工作波长范围	1260 to 1620 nm
分辨率	0.01 dB
PDL测量精度	+/- (0.01 + 5% PDL) dB
PDL测量可重复性	+/- (0.005 + 2% PDL) dB
PDL测量范围	0 to 45 dB
IL测量精度	+/- (0.01 + 5% PDL) dB
IL测量可重复性	+/- (0.005 + 2% PDL) dB
IL测量范围	0 to 45 dB
注入功率范围	-40 dBm to +6 dBm
测量速度	30 ms/次（输入功率> -30 dBm）