TranCT-215可用于光子芯片在片级、封装、集成等检测环节对其传输损耗进行测量，具有超高的损耗测试动态范围和灵敏度，超高的空间分辨率和损耗定位精度。该系统亦可选配光纤传感功能软件，从而使该系统实现多通道同时采集、分布式光纤应变及温度测量功能。

产品特点：
损耗测试功能

• 测试长度最长50m
• 空间分辨率高达20um
• 回损测试灵敏度可达-130dB
• 回损测试动态范围80dB
• 揑损测试动态范围15dB
• 可提供全套硬、软件解决方案

传感测试功能

• 测试长度最长100m
• 空间分辨率最高可达1mm@50m
• 可提供全套硬、软件解决方案

典型应用：

• 光子芯片传输损耗测量
• 芯片内损耗事件定位分析
• 光组件内部光链路损耗分析
• 芯片内光链路延时测量
• 分布式光纤应变、温度传感
• 3D光纤形状传感系统研发

产品参数：
 

技术指标	单位	TranCT-215
损耗测试功能
中心波长	nm	1550
扫描范围	nm	40
波长精度	pm	0.1
光链路测试长度	m	50
空间分辨率	um	20
回损测试范围	dB	0~-125
回损灵敏度	dB	-130
回损动态范围	dB	80
回损测量分辨率	dB	0.1
回损测量精度	dB	±0.5
插损动态范围	dB	15
插损分辨率	dB	0.1
插损精度	dB	±0.2
测试频率	Hz	1
传感功能
空间分辨率	mm	1@50m，10@100m
应变测量范围	uɛ	±15000
应变测量精度	uɛ	±5
温度测量范围	℃	-200~1200
温度测量精度	℃	±0.2
测试通道数	-	标准1，可定制
单次测试时间	s	5