LWA7601-C光器件分析仪

LWA7601-C光器件分析仪

LWA7000系列是美国LUNA公司最新产品,是Luna6415的优化升级替代款,在整体性能上更上一个台阶。是光子集成电路和硅光芯片的理想测试工具,得益于其超高的灵敏度和空间分辨率(20μm)。...

TranCT-215国产OFDR光器件分析仪

TranCT-215国产OFDR光器件分析仪

TranCT-215可用于光子芯片在片级、封装、集成等检测环节对其传输损耗进行测量,具有超高的损耗测试动态范围和灵敏度,超高的空间分辨率和损耗定位精度。该系统亦可选配光纤传感功能软件,从而使该系统实现...

OCDR1000白光干涉型反射计

OCDR1000白光干涉型反射计

OCDR-1000是美国Luna公司(原General Photonics)的一种基于白光干涉的反射计,用于获取光纤组件,如光子集成芯片(PIC))内部的空间反射信息,用于诊断质量或设计问题。它可以作...

6415光器件分析仪

6415光器件分析仪

LUNA6415作为光子集成电路和硅光芯片的理想测试工具,得益于其超高的灵敏度和空间分辨率(20μm)。LUNA6415还具备单台仪器通过选择反射或者透射模式就能完成IL、RL、长度等所有测试,...